カールツァイス
「ZEISS METROTOM 800 225kV HR」
価格・スペック

「ZEISS METROTOM 800 225kV HR」は、世界的な光学機器および測定機メーカーであるカールツァイスが開発した産業用X線CT装置（三次元測定機）です。HR（High Resolution：高解像度）の名の通り、中型サイズの部品を対象に、微細な欠陥や複雑な内部構造を極めて鮮明に捕捉することに特化したモデルです。
単なる透視装置ではなく、VDI/VDE 2630規格に準拠した高い測定精度を備えており、高度な品質保証が求められる製造現場で広く採用されています。
ここでは、「ZEISS METROTOM 800 225kV HR」の具体的な特徴や機能、詳細な仕様スペックについて解説します。

引用元HP：ZEISS（ツァイス）ジャパン
https://www.zeiss.co.jp/metrology/systems/x-ray/3d-x-ray/metrotom-800-320-kv.html

ZEISS METROTOM 800 225kV HRの3つの大きな特徴

1. 微細な構造を鮮明に捉える高解像度（HR）性能

本機の最大の特徴は、その卓越した解像度です。最適化されたX線管と高精細なディテクタの組み合わせにより、対象物内部の極めて小さなポロシティ（空隙）やクラックを高いコントラストで描き出します。中型のプラスチック部品から軽金属まで、精密な内部構造の評価において、ノイズの少ないクリアな画像データを提供します。

2. スループットと精度の高い次元での両立

高い解像度と測定精度を維持しながら、スキャン時間の効率化にも配慮された設計となっています。検査対象を素早く正確にスキャンできるため、品質管理部門でのルーチン検査だけでなく、開発プロセスの初期段階におけるプロトタイプの迅速なフィードバックなど、スピードと正確性が同時に求められる現場で威力を発揮します。

3. VDI/VDE 2630規格準拠による信頼性の高い三次元測定

カールツァイスの三次元測定技術が注ぎ込まれており、世界標準であるVDI/VDE 2630規格に準拠した高い寸法測定精度を保証しています（CTスキャンモードでE：8μm + L/100等）。専用の解析ソフトウェアを用いることで、取得したボリュームデータから直接、高精度な寸法測定や幾何公差の評価、CADデータとの比較解析をシームレスに実行可能です。

ZEISS METROTOM 800 225kV HRの詳細スペック表

以下は、ZEISS METROTOM 800 225kV HRの仕様および寸法等の詳細データです。

ZEISS METROTOM 800 225kV HRが強みを発揮する主な用途

高い解像度と高精度の測定能力により、以下のような用途で強みを発揮します。

• 精密部品の寸法測定： コネクタや小型ギアなど、微細な構造を持つ部品の寸法や幾何公差を非破壊で正確に評価
• 樹脂および軽金属部品の欠陥検査： アルミダイカストやプラスチック成形品内部の微小な「巣（ポロシティ）」、クラック、ひけの検出
• 電子デバイス・実装基板の解析： BGAやはんだ接合部のボイド、断線などの微細な実装不良の確認
• リバースエンジニアリング： 複雑な内部構造を持つ製品を高精度にスキャンし、CADデータとしてデジタル化

ZEISS METROTOM 800 225kV HRはこんな企業におすすめ

「ZEISS METROTOM 800 225kV HR」は、特に微細な欠陥の検出や、厳しい公差が設定された精密部品の寸法測定を行いたい企業に適しています。

中型サイズ（最大耐荷重5kg）までの対象物において、極めてクリアな内部画像を必要とする自動車用電子部品、医療機器、精密機器のメーカーなどでその威力を発揮します。VDI/VDE 2630規格に準拠した測定精度により、試作段階での金型補正のフィードバックから、量産ラインでの品質保証まで、信頼性の高いデータに基づく迅速な意思決定を強力にサポートします。

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